半导体Wafer AOI-Spectra
半导体晶圆表面缺陷检测Vafer AOI
产品特点
全自动
全自动
全自动晶圆上料
多尺寸
多尺寸
支持4/6/8寸晶圆及切割环
多倍率
多倍率
支持2/5/10/20倍放大倍率
高精密
高精密
微孔陶瓷底盘,精密吸附支持切割后检测
可检测缺陷
设备特点