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2D A0I-Beta系列
[AI+]2D 自动光学检测设备
可检测缺陷
异物
炉前锡球
金面污染
锡珠
沾锡
金面划伤
分析能力
强大的SPC软件,提供丰富准确的数据统计
高速性
高精度运动系统,确保高速运动下的走停精度
扩展性
可根据工厂需求对接集成MES系统
精度保障
高密度大理石平台,为高精度成像提供保障
产品特点
设备参数
设备类型
标准版Beta-S单轨 标准版Beta-D双轨 大尺寸Beta-L(可定制)
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基板尺寸
Beta-S(510*460mm) Beta-D(510*330mm) Sigma-L支持尺寸定制
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设备尺寸
单轨W1136*D1471*H1637mm 双轨W1136*D1701*H1637mm
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分辨率
4μm/7um/10μm/15μm
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